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基本信息

 雷绍充,教授,博士生导师。

1990年毕业留校任教。硕士师从施仁先生,方向为自动控制专业自动测试技术与装置。

博士师从邵志标先生,方向为微电子学专业VLSI设计、测试与可测性设计。

科研项目
项目编号 项目名称 项目来源 起讫时间 承担角色 项目类别
SGTJ0000KXJS140006 国家电网2014科技项目《变压器绕组变形在线监测芯片的关键技术研制》 国务院各部委项目2014-1~负责人纵向项目
陕XXX 金融领域安全IC卡和密码关键产品 其他2013-6~负责人纵向项目
陕发13-8 ECC加密算法及硬件实现 其他2013-6~负责人纵向项目
61306048 产品测试和BIST环境下数模混合信号集成电路频谱测试与数据处理的理论和算法研究 国家自然科学基金项目2013-12~骨干成员纵向项目
61006033 基于软件的同构多核处理器测试与诊断方法研究 国家自然科学基金项目2010-12~骨干成员纵向项目
20011205 电动机启动测试分析系统 其他2001-1~骨干成员横向项目
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出版物
出版物 作者 出版日期 出版社
SOC测试 雷绍充,梁峰,张鸿,张国和2011-12-30西安交通大学出版社
超大规模集成电路测试 雷绍充,邵志标,梁峰2008-05-01电子工业出版社
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奖项成果
奖项名称 获奖年份 奖项类型 奖项等级 申报部门
VLSI测试方法学的建立与发展 2010其他二等奖陕西省教育厅
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教学成果
成果名称 奖项等级 项目完成人 申报单位
VLSI测试 2011二等奖雷绍充,邵志标,梁峰电信学院
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讲授课程

《VLSI测试方法与可测性设计》
《SOC测试》

联系方式

陕西省西安市咸宁西路28号西安交通大学电信学院
邮编:710049

(1.)Basic Information

Lei Shaochong. I got my Phd degree and MSE degree from Xi'an Jiaotong Univ. . The former was attained from the Instisute of Microelectronics of the School of Electroncis and Iinformation, and the latter was attained from the Institute of Automatic Control.

研究领域

数字集成电路设计

VLSI测试与可测性设计

ECC加密算法及硬件实现

电气、仪表与计算机控制系统

电子电路设计

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


 

专利
名称 申请号 专利类型 申请日期
一种多维相似压缩电路 发明 2015.04.20
掐头去尾移位补值电路 发明 2013.10.28
去头去尾移位电路 发明 2013.10.28
一种单线串行总线协议及转换电路 201310488846.X发明 2013.10.18
一种平方电路 201310488728.9发明 2013.10.18
一种掐头去尾电路 201310488789.5发明 2013.10.18
一种计1器电路 201310488850.6发明 2013.10.18
数字集成电路测试数据的压缩生成方法 201010256212.8发明 2010.08.18
一种集成电路的测试图形生成器及其测试方法 201010103360.6发明 2010.01.29
一种集成电路的测试图形生成器及其测试方法 200910023396发明 2009.07.21
集成电路的复合扫描单元 200910021873.X发明 2009.04.03
一种集成电路的测试图形生成器 200910021525.2发明 2009.03.13
共有12条记录 共有1页面 每页面显示 条记录 页索引: 1 链接到第 页面
论文期刊
论文标题 作者 发表/完成日期 期刊名称
Test patterns of multiple SIC vectors: theory and application in BIST schemes 梁峰Feng Liang; Luwen Zhang; Shaochong Lei; 等2013-04-05IEEE Trans. on VLSI
An Optimized Seed-based Pseudo-random Test Pattern Generator: Theory and Implementation Sun Haijun(孙海珺), Zeng Yongjia(曾永甲), Li Pu(李璞), Lei2011-12-17JETTA
Design of Four-wave Oscillating Cellular-Neural-Network Zhang Guohe(张国和), Lei SC, M Tanaka, BG Kumar2011-06-28IEICE
A unified solution to reduce test power and test volume for Test-per-scan schemes Shaochong Lei, Zhen Wang(王震), Zeye Liu(刘泽叶)2010-09-09IEICE Electronics Express
A Low Power Test Pattern Generator for BIST Lei SC, Feng L(梁峰), Liu ZY(刘泽叶), Wang XY(王晓瑛)2010-05-04IEICE Trans. Electronics
Explore the Limits to Reduce Test Power Lei SC, Jiang ZW, and D M H Walker 2008-10-31IEEE D3T-2008
A Class of SIC Circuits: Theory and Application in BIST Design Lei SC, Hou XY(侯学彦), Shao ZB(邵志标), Liang Feng2008-01-03IEEE Trans.Circuits and System II
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教学资源 教学资源

显示 2 条结果。

(5.)Scientific Research

 Digital IC design

VLSI design, testing and design for testable

ECC algorithm and hardware implementation

Fault diagnosis

Electronic circuitry design and simulation

Control system and instrumentation design

(7.)Contact

Shaochong Lei
School of Eletronics and Information
Xi'an Jiaotong University
Xi'an, Shaanxi
710049
China
Emali: leisc at mail.xjtu.edu.cn
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