专利及相关研究成果应用：

 一、微波介电温谱测试系统（300MHz-100G) 

    对薄膜/块体电介质的复介电常数/损耗随温度变化的全自动化测试系统。包括分立测试设备单独控制和多设备同步协同工作，提供Ni-LabView和VC, VC#代码封装。典型的分立测试设备如Agilent/Keysight E4294/4980/5730/8750等精密LCR测量，多路继电器开关控制，环境温箱系统Delta 9010/9015控制(-80--220^oC)，和谐振腔体设计等，该系统允许单次同步测试多个样品。

二、直流电场下半导体氧化物浓度/耗尽层厚度测试系统

三、近场天线设计应用于智能柜台系统

链接：  

http://news.rfidworld.com.cn/2017_09/357c972710735136.html

http://news.yktchina.com/201709/fa290a051f8d334d.html

http://news.rfidworld.com.cn/2017_09/357c972710735136.html

http://mobile.iotworld.com.cn/View.aspx/news-4080bc2962c38085

四、监测数据与管道应力分析实时通讯软件及智能诊断系统