课题组钟辉提交的论文Radiation-Induced Conductivity of Alumina Materials Under Steady-State X-Ray Irradiation: Numerical Calculations and Measurements被期刊《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》接收，文章所有作者分别为：西安交通大学钟辉博士、陈玉教授、岳东立、李志超、侯潇涵博士、西安交通大学王双助理教授、中国工程物理研究院电子工程研究所朱小锋研究员和西安交通大学成永红教授。

X射线环境中材料抗电离辐射和辐射感应电导率（Radiation-Induced Conductivity, RIC）测量的研究在各个领域受到广泛关注。该论文基于稳态X射线RIC测试系统，获得氧化铝陶瓷材料在不同剂量率X射线辐射、不同偏置电场下电导率的变化规律。电导率的稳态值和峰值与剂量率呈正相关，随偏置电场增大而首先降低，然后迅速增加。研究RIC模型的计算方法，通过陷阱能级的离散将其转化为常微分方程组，代入聚酰亚胺的电荷运输动力学参数，计算氧化铝材料的RIC在对应条件下随时间变化的曲线，计算结果与实验结果吻合较好，说明电场在一定范围内的增大加速了载流子的捕获和复合过程。

本论文相关工作获得国家重点研发计划项目（No. 2022YFF0705600）、电力设备电气绝缘国家重点实验室（No. EIPE23301）、陕西省科技创新引领计划（No. 2022KXJ-68）、国家自然科学基金（No. 52107026）以及强脉冲辐射环境模拟与效应全国重点实验室开放基金项目（No. NKLIPR2318）的资助。