7月31日上午，由西安交通大学、中国科学院高能物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、广州禾信仪器股份有限公司和北京卫星环境工程研究所承办的中国仪器仪表学会学术年会光电子谱分析仪器技术与应用分场活动在成都市世纪城假日酒店东楼召开。

会议采用线上线下相结合的方式进行，由西安交通大学教授陈玉担任论坛主持，日本千叶大学教授Hisao Ishii、日本千叶大学教授Yoshida Hiroyuki、中科院上海微系统与信息技术研究所研究员乔山、大连交通大学教授郭方准、中科院化学研究所高级工程师赵志娟、中山大学正高级实验师谢方艳、中科院高能物理研究所研究员刘术林、中科院长春光学精密机械与物理研究所研究员黄煜、北京卫星环境工程研究所研究员沈自才及全国光电子谱分析技术与仪器领域相关专家等出席会议。

西安交通大学陈玉教授介绍了光电子谱联合分析仪在先进制程集成电路制造中的应用及其发展前景，并指出这种分析仪结合了X射线光电子能谱（XPS）和紫外光电子能谱（UPS）等多种光电子分析技术，能够提供关于材料表面和界面的详细化学和电子结构信息，为集成电路制造过程中的材料分析和质量控制提供了强有力的支持。

日本千叶大学Hisao Ishii教授就“High-Sensitivity Measurement of Photoelectron Emission to Examine the Electronic Structure of Materials its Principle and Applications”这一主题进行了精彩的汇报。主要包括HS-UPS与PYS的介绍，不仅展示了光电子发射测量技术的理论深度和应用广度，还为与会者提供了宝贵的研究启示。Ishii教授的讲解深入浅出，使与会者受益匪浅。

日本千叶大学Yoshida Hiroyuki教授就“Low-energy inverse photoelectron spectroscopy”这一主题进行了深入的讲解。Yoshida教授详细介绍了低能量反光电子能谱（LEIPS）技术的基本原理及其在研究材料表面电子结构中的重要应用。通过丰富的实验数据和实例，展示了其在前沿材料研究中的巨大潜力。

中科院上海微系统与信息技术研究所乔山研究员就“图像型多通道自旋分辨光电子谱仪”这一主题进行了深入的讲解。首先强调了角分辨光电子谱在物质科学研究中具有不可替代的作用，详细介绍了电子自旋的测量方法。与传统光电子谱仪不同，图像型多通道自旋分辨光电子谱仪能够同时检测多个自旋态，并以图像形式展示测量结果，从而提供更直观和全面的电子态信息。

大连交通大学郭方准教授介绍了大连齐维科技发展有限公司各种超高真空装备业绩，包括双阳极X射线源、氦紫外光源、低能电子枪、高能电子枪以及氩离子枪等等，并展示了研发的国产脉冲电子枪的电路设计以及测试结果。

中科院化学研究所高级工程师赵志娟详细介绍了X射线光电子能谱（XPS）技术在分析非导电样品时所遇到的荷电效应问题，以及如何通过各种方法进行荷电中和，以提高分析的准确性。

中山大学正高级实验师谢方艳详细介绍了LAGP全固态锂金属电池界面的表征与修饰层设计、原位生成富LiF SEI层的LAGP准固态锂金属电池设计以及XPS表征中的LiF假象及其对应的策略。

中科院高能物理研究所研究员刘术林首先介绍了电子探测器在高能物理实验中的关键作用，强调了高探测效率、高增益和高稳定性对于准确测量和数据获取的重要性。他指出现有探测器在这些方面仍存在诸多挑战，推动新型探测器的研发具有重要意义，并表示在科学仪器中用于探测电子的探测器主要向着高探测效率、高增益、高稳定性方向发展。

中科院长春光学精密机械与物理研究所黄煜研究员首先讲述了对日高光谱观测的意义，强调了精细光谱绝对测量在理解太阳辐射特性、研究太阳活动和日地关系中的关键作用。并指出了宽谱段精细光谱绝对测量技术在未来空间探测任务中的潜在应用。

北京卫星环境工程研究所沈自才研究员首先详细介绍了中国航天的发展现状和需求，并分析了空间辐射环境及效应、航天器充放电效应及减缓。沈自才研究员表示通过紫外光电子能谱测试可以获得准确的航天器外露材料的紫外光电子发射数据，不仅可用于充电电位的仿真分析、航天外露材料的研制，还可以用于表面充电效应的防护。

会议筹办和召开期间受到了中国仪器仪表学会、中国仪器仪表学会科学仪器工作委员会和中国仪器仪表学会分析仪器分会的鼎力支持。承办单位西安交通大学十分重视此次的分场活动，在所有承办单位和协办单位的配合下，此次会议井然有序地进行，圆满完成会议的各项议程，获得了相关领域专家学者的高度认可。