近期，课题组论文 “Two-dimensional mapping of the electric field distribution inside vacuum microgaps by Scanning Electron Microscope” 在电子显微领域国际知名期刊MICRON在线发表。

该论文是课题组在近年来纳米尺度电学特性研究的重要成果之一，通过原位电子显微技术实现微米尺度真空电场分布特性的表征，为小尺度空间电场和微电子器件的结构设计等提供重要的技术参考。该论文的研究得到了西安交通大学材料学院Campnano研究中心的大力支持。

该论文作者为：Guodong Meng, Chengye Dong, Xinyu Gao, Dujiao Zhang, Kejing Wang, Pengcheng Zhang and Yonghong Cheng.

全文下载链接：https://doi.org/10.1016/j.micron.2018.10.001