研究方向:
1. 核结构材料制备;
2. 金属材料中的辐照损伤;
3. 先进材料微观结构表征;
4. 辐照损伤对金属材料微纳力学的研究
研究成果:
1.设计合金组分复杂性提高材料抗辐照性能
成果来源:https://www.nature.com/articles/ncomms13564
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1359645418302520#!
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022311518305816#!
2.研发具备优异抗辐照性能的高熵合金
成果来源:https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/21663831.2018.1504136
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S135964621830497
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1359645416307133
3.研发高抗辐照共格纳米氧化物弥散强化钢
成果来源:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1044580317321071
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022311513003176
4.调控局部化学有序,提高高熵合金抗辐照性能
利用间隙原子与主元的化学亲和性差异,促进局部化学有序的形成。间隙原子使原子尺度的成分波动更加剧烈,呈现出波长约为1-3 nm的波动。最终,辐照肿胀行为得到了抑制。
科研设备:
洛伦兹场发射透射电镜 ThermoFisher Talos-F200X
仪器简介:Talos-F200X配备超高亮度场发射电子枪、洛伦兹透镜、电子全息丝、四分割STEM探头、Gatan Oneview和Ceta双相机、四对称EDS能谱仪、多型原位样品杆以及丰富的电镜数据采集和分析软件;具备TEM、SAED、NBED、CBED、HAADF、ADF、BF、IDPC等图像采集,EDS成分分析,3D微结构分析,洛伦兹透射,电子全息等功能。加速电压200 kV,点分辨率≤0.23 nm,晶格分辨率≤0.12 nm,STEM分辨率≤0.16 nm;四能谱探头对称内置设计,适用于干净能谱信号的获取;配洛伦兹透射和电子全息丝,可开展磁学材料的研究;配原位力热、热电、低温双倾样品杆,可开展原位透射电镜研究。
场发射扫描电子显微镜 Zeiss GeminiSEM 500
仪器简介:GeminiSEM是Zeiss生产的一台全功能场发射扫描电子显微镜(FE-SEM),具有可变压力模式,在低电压状态下使用二次电子和背散射电子可以对样品进行高分辨率、高衬度和高信噪比的检测,即使要求苛刻的非导电样品也能获得清晰的图像;对任意样品进行高衬度和低电压成像,并使样品损伤降至最低。该设备有两个牛津X射线能谱仪,可广泛应用于微区形貌和成分分析。
X射线衍射仪 Bruker D8 ADVANCE (达芬奇)
仪器简介:Bruker AXS公司生产的D8 ADVANCE 是目前世界上最先进的X射线衍射仪系统之一,能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。
Focused Ion Baem (聚焦离子束) HELIOS NANOLAB
仪器简介:聚焦离子束系统(FIB)是一种与扫描电子显微镜或透射电子显微镜等相似的聚焦电子束系统,可以在纳米尺度上对材料进行成像,分析研究。