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高 建民
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科学研究与成果 - 高 建民
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专利
专利名称
基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法
申请号
ZL2007 1 0018884.3
专利类型
发明
发明人
高建民,陈富民等
申请日期
2011.06.22
代理人
学院
机械学院
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