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2019光学仪器与技术国际会议 OIT2019
发布者: 朱京平 | 2019-11-02 | 177

国际光学仪器与技术会议是由中国仪器与控制学会(CIS)和国际光学工程学会(SPIE)共同举办专注于光学仪器和相关技术的专业会议;会议的学术主题将集中于光学系统、光电仪器、光学传感器、成像、光电测量、光通信和光网络/微波光子学及其应用、激光及其应用、微纳制造、测量和计量、太赫兹技术及其应用;会议接受的所有报告(口头或海报)将由SPIE编辑和出版,包括引用和摘要、参考文献和全文,包括工程和科学索引和抽象数据库,包括EI CopnDeX,SIS科学网,NealEngress引文索引科学、COPUS、LNSPEC、CouthRef、DeepDyve、谷歌学者等。 

国际光学仪器与技术会议将推动光电子技术和仪器的不断发展,为新的工业革命注入新的能量,会议的赞助商将提供一个学术上平等的机会平台,为来自世界各地的与会者、研究者和专家传达最新的有趣的科学或技术。 

2019光学仪器与技术国际会议(OIT2019)于11月2日-4日在北京国际会议中心召开,我校电信学院朱京平教授参与大会并做特邀报告。《Etched diffraction grating with one-dimensional photonic crystal bandgap theory,OIT700-35》