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论文标题    A Low Power Test Pattern Generator for BIST
作者    Lei SC, Feng L(梁峰), Liu ZY(刘泽叶), Wang XY(王晓瑛)
发表/完成日期    2010-05-04
期刊名称    IEICE Trans. Electronics
期卷    2010，05
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论文简介    A Low Power Test Pattern Generator for BIST 2010.5. ISSN : 17451353 IEICE Trans. Electronics SCI 第一作者 SCI: 643ZZ
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