Patent

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Patent Name Application Number xjtu.gr.patent.type Application Date
一种四光束结构外差干涉法滚转角测量装置及方法 201911107830.3 Invention 2019.12.31
一种大范围及高精度的滚转角测量装置及测量方法 201711411843.0 Invention 2017.12.31
一种共光路激光外差干涉法滚转角高精度的测量装置及方法 201711411746.1 Invention 2017.12.31
用于高动态范围物体的区域投影光学三维轮廓测量方法 201610368146.0 Invention 2016.12.31
一种导轨滚转角现场标定及测量装置及方法 201610529719.3 Invention 2016.12.31
一种基于最佳匹配的叶片截面型线轮廓参数评价方法 201610696481.3 Invention 2016.08.19
基于多次通过二分之一波片的光强法滚转角测量装置及方法 201510394370 Invention 2015.12.31
基于倾斜折叠高反镜的外差干涉法滚转角测量装置及方法 201510749315.0 Invention 2015.12.31
一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法 201210158310.7 Invention 2012.05.22
工业射线检测底片数字化装置 201210012776.6 Invention 2012.01.01
科力迪工业射线胶片数字化软件 V2.0 2012R11S046498 Invention 2012.01.01
计算机辅助评片专家系统软件 V2.0 2012R11S046497 Invention 2012.01.01
JD-RTD射线底片数字化仪 201130479106.1 Industrial designs 2011.01.01
一种时间编码的光学三维轮廓测量方法 200910023393.7 Invention 2009.07.21
一种用于点扫描激光共焦显微镜的面内扫描方法和系统 200710018579.4 Invention 2007.09.04
光纤面板共焦显微镜测量三维面形的方法和装置 ZL00113793.X Invention 2000.04.26