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专利

专利名称    一种基于模拟的单晶叶片型壳局部加厚控制杂晶缺陷的方法
申请号    ZL201410582972.6
专利类型    发明
发明人    张航; 李涤尘; 鲁中良; 杨强
申请日期    2014.10.07
代理人   
学院    机械学院
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