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科研成果 - 张 伟旭
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专利
专利名称
一种热栅格扫描热波无损薄膜厚度检测方法
申请号
CN20191032394.0
专利类型
发明
发明人
张伟旭,曲直,张家宬
申请日期
2019.01.01
代理人
学院
航天学院
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