Defect levels in d-electron containing systems: Comparative study of CdTe using LDA and LDA + U
发布时间：2026-06-12
点击次数：
- 发布时间：
- 2026-06-12
- DOI码：
- 10.1088/1674-4926/41/10/102701
- 论文名称：
- Defect levels in d-electron containing systems: Comparative study of CdTe using LDA and LDA + U
- 发表刊物：
- Journal of Semiconductors
- 合写作者：
- Yu Wang, Guangde Chen,伍叶龙
- 第一作者：
- Yuan Yin
- 卷号：
- 41
- 期号：
- 10
- 页面范围：
- 102701
- ISSN号：
- 1674-4926
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2020-10-01