Sustained Oscillation Characterization of GaN HEMT at Cryogenic Temperature
发布时间：2026-06-10
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- 发布时间：
- 2026-06-10
- 论文名称：
- Sustained Oscillation Characterization of GaN HEMT at Cryogenic Temperature
- 发表刊物：
- 2025 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia)
- 合写作者：
- 陈子龙，韦玉麒，何言杰，张煜坤，豆冲（阳光电源），崔倩（阳光电源）
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2025-10-07