Multi-wavelength Pinhole Point Diffraction Interferometry for Optics Metrology with Interferometric Intensity based Phase Retrieval Method
发布时间：2025-11-23
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- 发布时间：
- 2025-11-23
- 影响因子：
- 3.5
- 论文名称：
- Multi-wavelength Pinhole Point Diffraction Interferometry for Optics Metrology with Interferometric Intensity based Phase Retrieval Method
- 发表刊物：
- Optics and Lasers in Engineering
- 卷号：
- 178
- ISSN号：
- 0143-8166
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2024-03-21
- 收录刊物：
- SCI