王宇 博士、副教授、博士生导师、硕士生导师
王宇 博士、副教授、博士生导师、硕士生导师
2015 上银优秀博士论文佳作奖(Hiwin Doctoral Dissertation Award)
2013 香港城市大学杰出学术奖(Outstanding Academic Perfor-mance Award)
1. IEEE Access期刊 副主编
(中科院二区, IF: 3.367)
2. IEEE 高级会员 (遴选10%)
3. 国家自然科学基金评审专家,
国家科技专家库专家
4. 中国振动工程学会故障诊断
专业委员会理事
6.担任2021年神经计算与
先进应用国际会议程序委员会主席
7.担任2020年神经计算与
先进应用国际会议组委会主席
8.担任2019年IEEE SDPC
会议分会主席
9. 国际著名期刊审稿专家, 包括
IEEE Transactions on Industrial Informatics (IF:10.215),
IEEE Transactions on Industrial Electronics (IF: 8.236),
Mechanical
Reliability Engineering
Tribology International(IF:4.872)
Quality and Reliability Engineering International (IF:2.885)
Email:ywang95@xjtu.edu.cn
TEL: 82663689
王宇 博士、副教授、硕士生导师、博士生导师。 2014年2月获得香港城市大学(QS全球排名45位)系统工程及工程管理学系博士学位。2013年到2014年在香港城市大学电子工程系担任副研究员(Research Associate)工作。IEEE高级会员,中国振动工程学会故障诊断分会理事。主持和参加国家自然科学基金重点项目、青年项目,博士后基金面上项目、特别资助项目,国家重点实验室项目,企业横向合作课题等近20项。在IEEE Transactions on Industrial Informatics, IEEE Transactions on Magnetics, IEEE Transactions on Instrument and Measurement,Journal of Sound and Vibration等国际著名学术刊物上发表研究论文40余篇,其中SCI收录30余篇,EI收录10篇,其中数篇论文ESI高被引,已发表论文至今已被引用1000余次。申请国家发明专利10项,已授权7项。
Y. Wang, Y. Peng, Y. Zi, X. Jin and K. Tsui, "A Two-Stage Data-Driven-Based Prognostic Approach for Bearing Degradation Problem," IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 12, no. 3, pp. 924-932, June 2016, (SCI, EI, 中科院一区, IF: 10.215,智能诊断与控制的顶级期刊).
Y. Wang, E. W. M. Ma, T. W. S. Chow and K. Tsui, "A Two-Step Parametric Method for Failure Prediction in Hard Disk Drives," IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 10, no. 1, pp. 419-430, Feb. 2014, (SCI, EI, 中科院一区, IF: 10.215,智能诊断与控制的顶级期刊).
G. Wang, Y. Wang* and X. Sun, "Multi-Instance Deep Learning Based on Attention Mechanism for Failure Prediction of Unlabeled Hard Disk Drives," IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-9, Apr 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).
J. Li, Y. Wang*, Y. Zi, X. Sun and Y. Yang, “A Current Signal-Based Adaptive Semisupervised Framework for Bearing Faults Diagnosis in Drivetrains,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-12, Jan. 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).
Y. Wang, X. Sun, J. Li and Y. Yang, “Intelligent Fault Diagnosis With Deep Adversarial Domain Adaptation,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-9, Jan. 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).