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Patent Name Application Number xjtu.gr.patent.type Application Date
多波长点衍射干涉仪用光路合束质量检测校准方法及系统 ZL202210283332.X Invention 2023.02.21
一种针孔点衍射干涉测量系统用孔板相移解相位方法 ZL202110770501.8 Invention 2022.10.25
基于卷积神经网络的相位信息提取方法、存储介质及设备 ZL202010778712.1 Invention 2022.06.07
一种基于自适应光学波前校正的高次非球面检测方法 ZL202011312177.7 Invention 2020.11.20
一种基于点衍射干涉仪的可变分辨率相位解包裹方法 ZL202010333826.5 Invention 2020.04.24
基于多轴联动的大离轴量非球面磨削刀具路径规划方法 ZL201910538237.8 Invention 2019.06.20
分块模板匹配结合形态学处理的电池丝印质量检测方法 ZL201910460803.8 Invention 2019.05.30
一种基于加权主成分分析法及M估计的三维点云配准方法 ZL201811386168.5 Invention 2018.11.20
一种基于图像信息的点衍射干涉仪光路精确校准系统及方法 ZL201811320963.4 Invention 2018.11.07
一种基于分块模板匹配的电池丝印质量检测方法 ZL201810016132.1 Invention 2018.01.08
一种基于机器视觉的电池连接器质量检测方法 ZL201810016140.6 Invention 2018.01.08
一种用于点衍射测量系统的多波长干涉相位检测方法 ZL201710936475.5 Invention 2017.10.10
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