复合绝缘子内部缺陷的微波检测系统及可视化定量评估方法
发布时间：2026-06-04
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- 专利名称：
- 复合绝缘子内部缺陷的微波检测系统及可视化定量评估方法
- 专利范围：
- 中国
- 第一作者：
- 方阳
- 发明设计人：
- 方阳,王若男
- 备注：
- 方阳，王若男，李勇，陈振茂. 复合绝缘子内部缺陷的微波检测系统及可视化定量评估方法，专利号：ZL202411121639.5，授权日期：2025.11.28
- 专利类型：
- 发明专利
- 专利状态：
- 授权
- 申请号：
- 202411121639.5
- 授权号：
- ZL202411121639.5
- 发明人数：
- 4
- 是否职务专利：
- 否
- 授权日期：
- 2025-11-28
- 发布时间：
- 2026-06-04