一种基于新型天线的材料反射率测试方法
发布时间：2026-06-04
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- 专利名称：
- 一种基于新型天线的材料反射率测试方法
- 专利范围：
- 中国
- 第一作者：
- 方阳
- 发明设计人：
- 方阳,杨西含,王若男,陈振茂,陈洪恩
- 备注：
- 方阳，杨西含，王若男，陈振茂，陈洪恩，李勇. 一种基于新型天线的材料反射率测试方法. 专利号：ZL202310912760.9，授权日期：2023.10.10
- 专利类型：
- 发明专利
- 专利状态：
- 授权
- 申请号：
- 202310912760.9
- 授权号：
- ZL202310912760.9
- 发明人数：
- 6
- 是否职务专利：
- 否
- 授权日期：
- 2023-10-10
- 发布时间：
- 2026-06-04