科研项目

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项目编号 项目名称 项目来源 起讫时间 承担角色 项目类别
HXDSH20230080 面向人工智能和高性能计算的领域定制架构处理器系统研究 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2023-01~2024-12 负责人 横向项目
202208106 存算一体架构和工具链算法研究项目 华为技术有限公司 2022-08~2023-08 负责人 横向项目
20211048 敏捷硬件开发方法研究和工程实践高校合作项目 华为技术有限公司 2021-10~2022-10 负责人 横向项目
2021GXLH-Z-081 基于边缘计算的智慧交管平台研发与建设 陕西省重点研发计划 2021-07~2023-07 负责人 纵向项目
20200970 DSP高性能计算单元研究与开发 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2020-09~2021-09 负责人 横向项目
2020JM-006 采用深度学习和传统编码器的混合分层图像压缩技术研究 陕西省自然科学基础研究计划 2020-01~2021-12 负责人 纵向项目
20200539 基于深度学习的图像视频压缩框架算法设计 腾讯公司 2020-01~2021-01 负责人 横向项目
20190128 基于深度学习和下一代H.266标准的图像和视频编码研究 腾讯公司 2019-01~2020-01 负责人 横向项目
JSGG20180712103402058 重2018N004高性能视觉感知智能处理芯片关键技术研发 大疆创新与深圳科创委 2018-01~2022-08 负责人 纵向项目
20180174 基于RISC-V非标准扩展指令集的DSP设计、实现及验证 其他 2018-01~2019-12 负责人 横向项目
20150624 基于深度学习的目标跟踪系统的研发 其他 2015-6~ 负责人 横向项目
61474093 一种低功耗高压缩率测试图形生成方法的实现与应用研究 其他 2015-01~2050-12 负责人 纵向项目
61006033 基于NoC的同构多核SoC并发在线测试研究 国家自然科学基金项目 2011-1~2013-12 负责人 纵向项目
xjj20100053 基于 NoC 的同构多核SoC 并发在线测试研究 其他 2010-9~2012-8 负责人 纵向项目
20150624 高速总线研制 国家攻关项目 2010-1~2012-1 骨干成员 横向项目
2085064 嵌入式ADC集成芯片研制 其他 2008-1~2011-1 骨干成员 横向项目

奖项

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奖项名称 获奖年份 奖项类型 奖项等级 申报部门
西安交通大学第十二届优秀教材奖 2011 其他 二等奖 西安交通大学
VLSI测试和可测性设计方法学的建立与发展 2011 省部级科技成果奖 三等奖 陕西省政府
VLSI测试和可测性设计方法学的建立与发展 2010 局厅级科技成果奖 二等奖 陕西省教育厅
中国第六届研究生电子设计竞赛团体优胜奖 2007 其他 其他 中国电子学会
西安交通大学第十届优秀教材奖 2007 其他 二等奖 西安交通大学

论文期刊

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论文标题 作者 发表/完成日期 期刊名称
A Weight Mapping Strategy for More Fully Exploiting Data in CIM-Based CNN Accelerator 王尚,梁峰 2023-11-24 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
Learned Image Compression with Gaussian-Laplacian-Logistic Mixture Model and Concatenated Residual Modules 付海生,梁峰 2023-04-03 IEEE Transactions on Image Processing
Asymmetric Learned Image Compression with Multi-Scale Residual Block, Importance Scaling, and Post-Quantization Filtering 付海生,梁峰 2023-01-17 IEEE Transactions on Circuits and Systems for Video Technology
Learned Image Compression with Generalized Octave Convolution and Cross-Resolution Parameter Estimation 付海生,梁峰 2023-01-01 Signal Processing
High Dimensional Bayesian Optimization for Analog Integrated Circuit Sizing Based on Dropout and gm/ID Methodology Chen Chen; Hongyi Wang; Xinyue Song; Feng Liang; Kaikai Wu; Tao Tao 2022-01-31 IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
一种低延时的浮点正弦余弦函数硬件实现算法 梁峰,刘春锐,李孝聪,邱广波,张继,陈振娇,李薇敏,曹琪,雷绍充 2021-11-01 西安交通大学
An extended context-based entropy hybrid modeling for image compression 付海生,梁峰,雷博,张倩 2021-07-12 Signal Processing: Image Communication
面向RISC-V指令集架构处理器的代码压缩技术 程战涛,梁峰,张国和 2021-06-01 微电子学与计算机
基于遗传进化策略的处理器验证方案 杨凯峰,张雪倩,冯娇,梁峰 2021-05-01 微电子学与计算机
一种高吞吐率的高效视频编码熵编码并行VLSI架构设计 周小朋; 梁峰; 李冰; 2020-07-01 西安交通大学学报
An extended hybrid image compression based on soft-to-hard quantification Haisheng Fu,Feng Liang,Bo Lei 2020-05-18 IEEE Access
Improved hybrid layered image compression using deep learning and traditional codecs Haisheng Fu,Feng Liang,Bo Lei,Nai Bian,QianZhanga 2020-03-18 Signal Processing: Image Communication
Test Patterns of Multiple SIC Vectors: Theory and Application in BIST Schemes Feng Liang,Luwen Zhang,Shaochong Lei,Guohe Zhang*,Kaile Gao,Bin Liang 2013-04-01 IEEE Transactions on very Large Scale Integradion (VLSI) Systems
A Subthreshold Swing Model for Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Metal–Oxide–Semiconductor Field Effect Transistors with Vertical Gaussian Profile Guohe Zhang,Kebin Chen,Xue Zheng,Feng Liang*,Zunchao Li 2013-01-03 Japanese Journal of Applied Physics
A Subthreshold Current Model of Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Metal–Oxide–Semiconductor Field Effect Transistors with Vertical Gaussian Profile Guohe Zhang,Kebin Chen,Feng Liang* 2012-02-01 Japanese Journal of Applied Physics
A novel Single Event Upset hardened CMOS SRAM cell Guohe Zhang, Jun Shao, Feng Liang*, Dongxuan Bao 2012-02-01 IEICE Electronics Express
A test pattern generation method with high compression ratio Liang, Feng; Zhang, Luwen; Lei, Shaochong 2011-11-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A low cost test pattern generator for test-per-clock BIST scheme Lei, Shaochong; Wang, Zhen; Liu, Zeye; Liang, Feng* 2010-10-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A unified solution to reduce test power and test volume for Test-per-scan schemes Lei, Shaochong; Wang, Zhen; Liu, Zeye; Liang, Feng* 2010-07-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A Low Power Test Pattern Generator for BIST Lei, Shaochong; Liang, Feng*; Liu, Zeye;Wang, Xiaoying 2010-05-01 IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS