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论文标题    A novel Single Event Upset hardened CMOS SRAM cell
作者    Guohe Zhang， Jun Shao， Feng Liang*， Dongxuan Bao
发表/完成日期    2012-02-01
期刊名称    IEICE Electronics Express
期卷    9（3）
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论文简介    A novel Single Event Upset hardened CMOS SRAM cell
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