null

我的新闻

分享到:
祝贺王鹤文章被IEEE Electron Device Letters接收
发布者: 刘明 | 2019-09-08 | 9222

 

"Ferromagnetic Resonance of Single-Crystalline La0.67Sr0.33MnO3 Thin Film Integrated on Silicon"
H. Wang, L. K. Shen, L. Lu, B. Zhang, C. R. Ma, C. M. Cao, C. J. Jiang, M. Liu, C. L. Jia
IEEE Electron Device Letters, 2019, Accepted. 
新
News List
闻列表
更多新闻 ++