null

News

Share to:
祝贺王鹤文章被IEEE Electron Device Letters接收
Publisher: 刘明 | 2019-09-08 | 9273

 

"Ferromagnetic Resonance of Single-Crystalline La0.67Sr0.33MnO3 Thin Film Integrated on Silicon"
H. Wang, L. K. Shen, L. Lu, B. Zhang, C. R. Ma, C. M. Cao, C. J. Jiang, M. Liu, C. L. Jia
IEEE Electron Device Letters, 2019, Accepted. 
New
News List
News
Latest news ++