
所在单位:机械工程学院
学历:博士研究生毕业
性别:男
学位:博士
职称:教授

王宇 教授、博士生导师
1. IEEE Trans. CONSUM ELECTR
期刊客座主编(IF: 10.9)
2. IEEE Access期刊副主编
(中科院二区, IF:3.367)
3. IEEE 高级会员(遴选10%)
4. 国家自然科学基金评审专家,
国家科技专家库专家
5. 中国振动工程学会故障诊断
专业委员会理事
6.担任2021年神经计算与
先进应用国际会议程序委员会主席
7.担任2020年神经计算与
先进应用国际会议组委会主席
8.担任2019年IEEE SDPC
会议分会主席
9. 国际著名期刊审稿专家, 包括
IEEE Transactions on Industrial Informatics (IF:10.215),
IEEE Transactions on Industrial Electronics(IF: 8.236),
Mechanical System and Signal Processing (MSSP, IF: 6.471),
Reliability Engineering & System Safety (RESS, IF:5.040),
Tribology International(IF:4.872)
Quality and Reliability Engineering International (IF:2.885)
Email:ywang95@xjtu.edu.cn
TEL: 82663689
王宇 博士、副教授、硕士生导师、博士生导师。 2014年2月获得香港城市大学(QS全球排名45位)系统工程及工程管理学系博士学位。2013年到2014年在香港城市大学电子工程系担任副研究员(Research Associate)工作。IEEE高级会员,中国振动工程学会故障诊断分会理事。主持和参加国家自然科学基金重点项目、青年项目,博士后基金面上项目、特别资助项目,国家重点实验室项目,企业横向合作课题等近20项。在IEEE Transactions on Industrial Informatics, IEEE Transactions on Magnetics, IEEE Transactions on Instrument and Measurement,Journal of Sound and Vibration等国际著名学术刊物上发表研究论文100余篇。
Y. Wang, Y. Peng, Y. Zi, X. Jin and K. Tsui, "A Two-Stage Data-Driven-Based Prognostic Approach for Bearing Degradation Problem," IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 12, no. 3, pp. 924-932, June 2016, (SCI, EI, 中科院一区, IF: 10.215,智能诊断与控制的顶级期刊).
Y. Wang, E. W. M. Ma, T. W. S. Chow and K. Tsui, "A Two-Step Parametric Method for Failure Prediction in Hard Disk Drives," IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 10, no. 1, pp. 419-430, Feb. 2014, (SCI, EI, 中科院一区, IF: 10.215,智能诊断与控制的顶级期刊).
G. Wang, Y. Wang* and X. Sun, "Multi-Instance Deep Learning Based on Attention Mechanism for Failure Prediction of Unlabeled Hard Disk Drives," IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-9, Apr 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).
J. Li, Y. Wang*, Y. Zi, X. Sun and Y. Yang, “A Current Signal-Based Adaptive Semisupervised Framework for Bearing Faults Diagnosis in Drivetrains,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-12, Jan. 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).
Y. Wang, X. Sun, J. Li and Y. Yang, “Intelligent Fault Diagnosis With Deep Adversarial Domain Adaptation,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 70, pp. 1-9, Jan. 2021, (SCI, EI, IF: 4.016).