恭喜王晓莹博士获得授权专利：一种半导体材料晶格热导率检测方法及系统
发布时间：2024-11-21
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- 恭喜王晓莹博士获得授权专利：一种半导体材料晶格热导率检测方法及系统
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高志斌，王晓莹，一种半导体材料晶格热导率检测方法及系统，发明专利，授权时间：2024年11月15日。
高志斌，王晓莹，一种半导体材料晶格热导率检测方法及系统，发明专利，授权时间：2024年11月15日。