吕春林
  • 助理教授
  • 电子邮箱:
  • 所在单位:电气工程学院
  • 学历:直博
  • 办公地点:
  • 性别:
  • 联系方式:
  • 学位:博士
  • 学科:
论文成果
当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果
A Method to Characterize the Shrinking of Safe Operation Area of Metallized Film Capacitor Considering Electrothermal Coupling and Aging in Power Electronics Applications
  • 发布时间:2025-04-30
  • 论文名称:A Method to Characterize the Shrinking of Safe Operation Area of Metallized Film Capacitor Considering Electrothermal Coupling and Aging in Power Electronics Applications
  • 发表刊物:IEEE Transactions on Industrial Electronics
  • 合写作者:C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al.
  • 卷号:70(2)
  • 页面范围:1993-2002
  • 是否译文:
  • 发表时间:2023-02-10
  • 合写作者:C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al.