吕春林
  • 助理教授
  • 电子邮箱:
  • 所在单位:电气工程学院
  • 学历:直博
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  • 联系方式:
  • 学位:博士
  • 学科:
论文成果
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  • [1] . C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al. . A Method to Characterize the Shrinking of Safe Operation Area of Metallized Film Capacitor Considering Electrothermal Coupling and Aging in Power Electronics Applications , IEEE Transactions on Industrial Electronics , 2023 , 70(2) : 1993-2002
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