基本信息

 

吕春林 博士，助理教授

主持台达电力电子科教发展计划资助1项；

参与国家重点研发计划项目1项，国家自然科学基金项目1项；

在国际顶级期刊及高水平国际会议上发表论文20余篇，获国家发明专利2项；

担任IEEE TEPL、IEEE TIE、IEEE JESTPE、Microelectronics Reliability等期刊审稿人；

课题组隶属电气工程学院刘进军教授团队

刘进军教授主页：https://gr.xjtu.edu.cn/web/jjl

联系方式

邮箱：lvchunlin@xjtu.edu.cn

地址：陕西省西安市碑林区咸宁西路28号西安交通大学

邮编：710049

办公地点：兴庆校区东二楼102、创新港3号楼4155

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教育及工作经历

工作经历

2024. 02 至今     西安交通大学   助理教授

 

教育经历

2018.09 - 2023.09       西安交通大学   工学博士

2014 .09- 2018.07       重庆大学          工学学士

研究领域

电力电子关键器件可靠性分析与优化设计

电力电子关键器件多物理场应力分析

人工智能在电力电子可靠性领域的应用

代表性成果

[1] C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al. A Method to Characterize the Shrinking of Safe Operation Area of Metallized Film Capacitor Considering Electrothermal Coupling and Aging in Power Electronics Applications[J]. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2023, 70(2):1993-2002.

[2] C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al. A high-resolution analytical thermal modeling method of capacitor bank considering thermal coupling and different cooling modes[J]. IEEE Transactions on Power Electronics, 2023, 38(6): 7674-7684.

[3] C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al. Reliability Modeling for Metallized Film Capacitors Based on Time-Varying Stress Mission Profile and Aging of ESR[J]. IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, 2021, 9(4):4311-4319.

[4] C. Lv, J. Liu, Y. Zhang,et al. An improved lifetime prediction method for metallized film capacitor considering harmonics and degradation process[J]. Microelectronics Reliability, 2020, 114: 113892.

[5] C. Lv, J. Liu, Y. Zhang, et al. A data-driven method for anomaly detection and aging model parameter estimation of capacitors based on condition monitoring[J]. Microelectronics Reliability, 2022, 138: 114646.

[6] 张岩，吕春林，杨跃，曹瑞，刘进军．基于任务剖面的金属化膜电容器加速寿命试验装置及方法[P]．CN202011445904.7，2022-02-22．

[7] 张岩，吕春林，曹瑞，刘进军．基于任务剖面与老化分析的金属化膜电容器寿命预测方法[P]．CN202010010365.8，2022-04-22．