热烈祝贺课题组High Voltage论文《Understanding insulation failure of nanodielectrics: tailoring carrier energy》 - 主页 - 李 盛涛
热烈祝贺课题组High Voltage论文《Understanding insulation failure of nanodielectrics: tailoring carrier energy》
本文从电荷能量角度分析了纳米表面修饰基团及纳米含量对界面陷阱特性和短时、长时击穿性能调控的影响机理,建立了界面结构/理化性质—陷阱特性
— 电荷输运特性—宏观介电性能之间的关联,为纳米复合绝缘介质的性能提升提供理论基础。
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